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Microscopía Electrónica de Barrido SEM

Microscopía Electrónica
de Barrido SEM

Contacto:

Coordinador: Carlos Mario Garzón Ospina
Teléfono: 3165000 Ext. 13087

Descripción:

La microscopía electrónica de barrido (MEB) es una técnica de imagen que utiliza un haz de electrones para analizar la topografía de una muestra a nivel microscópico. En lugar de utilizar luz, como en la microscopía óptica, la MEB emplea un haz de electrones que escanea la superficie de la muestra y produce una imagen en alta resolución.

Usos

Caracterización de materiales

La MEB puede utilizarse para analizar la estructura y la composición de materiales, lo que es útil en la investigación y el desarrollo de nuevos materiales.

Análisis de fallas

La MEB es una herramienta valiosa en la identificación y el análisis de las causas de las fallas de los materiales y los componentes.

Diagnóstico médico

La MEB puede utilizarse para estudiar tejidos y células a nivel microscópico, lo que es útil en el diagnóstico de enfermedades y la investigación médica.

Estudio de la morfología de superficies

La MEB puede utilizarse para analizar la morfología de superficies, como la rugosidad y la textura, lo que es útil en la ingeniería y la fabricación.

Espectroscopio de energía dispersiva

Adicionalmente el equipo tiene un espectroscopio de energía dispersiva de rayos x (EDX o EDS, por sus siglas en inglés), la cual es una técnica que se utiliza en conjunción con la microscopía electrónica de barrido (SEM) para obtener información sobre la composición química de una muestra a nivel microscópico.

En el SEM, un haz de electrones bombardea la muestra y produce una serie de señales, incluyendo electrones retrodispersados, electrones secundarios y rayos X. La EDX se utiliza para detectar y analizar los rayos X producidos por la muestra, lo que proporciona información sobre los elementos químicos presentes en la muestra.

Algunas de las aplicaciones de la EDX en el SEM incluyen:

Identificación de elementos: la EDX puede utilizarse para identificar los elementos químicos presentes en la muestra, lo que es útil en la investigación de materiales y la caracterización de muestras.
Análisis de composición: la EDX puede utilizarse para medir la concentración de los elementos químicos presentes en la muestra, lo que es útil en el análisis de la composición de materiales.
Análisis de fallas: la EDX puede utilizarse para identificar los elementos químicos presentes en áreas de falla o desgaste en la muestra, lo que es útil en la investigación de las causas de las fallas.
Investigación de la distribución de elementos: la EDX puede utilizarse para estudiar la distribución de los elementos químicos en la muestra, lo que es útil en la investigación de la estructura y las propiedades de los materiales.

Equipamiento

Fuente de electrones tipo W termoiónica

Rango de voltaje de operación entre 100V y 30kV.

Cuenta con detectores de electrones secundarios (SE) y retrodispersados (BSE)

Resolución entre puntos 2nm (30kV) 4nm (5kV)

Rango de aumento 5x – 300.000x

Detector de EDX Bruker

Servicios

Análisis de composición elemental en puntos específicos de la muestra. (este equipo no permite medir trazas de materiales, es decir concentraciones menores al 1%)

Costos

* El valor del punto corresponde a un día de salario mínimo legal vigente