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Microscopía Electrónica
de Barrido SEM
Contacto:
Coordinador: Carlos Mario Garzón Ospina
Teléfono: 3165000 Ext. 13087
Descripción:
La microscopía electrónica de barrido (MEB) es una técnica de imagen que utiliza un haz de electrones para analizar la topografía de una muestra a nivel microscópico. En lugar de utilizar luz, como en la microscopía óptica, la MEB emplea un haz de electrones que escanea la superficie de la muestra y produce una imagen en alta resolución.
Usos
Caracterización de materiales
La MEB puede utilizarse para analizar la estructura y la composición de materiales, lo que es útil en la investigación y el desarrollo de nuevos materiales.
Análisis de fallas
La MEB es una herramienta valiosa en la identificación y el análisis de las causas de las fallas de los materiales y los componentes.
Diagnóstico médico
La MEB puede utilizarse para estudiar tejidos y células a nivel microscópico, lo que es útil en el diagnóstico de enfermedades y la investigación médica.
Estudio de la morfología de superficies
La MEB puede utilizarse para analizar la morfología de superficies, como la rugosidad y la textura, lo que es útil en la ingeniería y la fabricación.
Espectroscopio de energía dispersiva
Adicionalmente el equipo tiene un espectroscopio de energía dispersiva de rayos x (EDX o EDS, por sus siglas en inglés), la cual es una técnica que se utiliza en conjunción con la microscopía electrónica de barrido (SEM) para obtener información sobre la composición química de una muestra a nivel microscópico.
En el SEM, un haz de electrones bombardea la muestra y produce una serie de señales, incluyendo electrones retrodispersados, electrones secundarios y rayos X. La EDX se utiliza para detectar y analizar los rayos X producidos por la muestra, lo que proporciona información sobre los elementos químicos presentes en la muestra.
Algunas de las aplicaciones de la EDX en el SEM incluyen:
Equipamiento
Unidad de EPR
Fuente de electrones tipo W termoiónica
Rango de voltaje de operación entre 100V y 30kV.
Cuenta con detectores de electrones secundarios (SE) y retrodispersados (BSE)
Resolución entre puntos 2nm (30kV) 4nm (5kV)
Rango de aumento 5x – 300.000x
Detector de EDX Bruker
Servicios
Micrografías de media y alta resolución tomadas con los detectores de secundarios y retrodispersados
Análisis de composición elemental en puntos específicos de la muestra. (este equipo no permite medir trazas de materiales, es decir concentraciones menores al 1%)
Costos
| Descripción | Puntos* | $ |
|---|---|---|
| Uso SEM gratuito según nivel académico (hasta 16 h/sem para profesores; 4 h doctorado, 2 h maestría, 1 h pregrado por semestre). | 2.0 | 94.900 |
| Cada hora de servicio SEM para usuarios de otras dependencias de la UN y para actividades de extensión realizadas por profesores del Dep. de Física tiene un costo de: 3,5 puntos | 3.5 | 166.075 |
| Cada hora de servicio SEM para usuarios externos a la UN | 5.5 | 260.975 |